高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試系統(tǒng)(DH3TRB2000)
該系統(tǒng)針對(duì)SiC MOSFET進(jìn)行高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試,測(cè)試方法參考AQG324。每個(gè)試驗(yàn)區(qū)域可進(jìn)行最高6個(gè)工位的測(cè)試,工位具備獨(dú)立脈沖源配置??蔀槠骷峁?biāo)準(zhǔn)85°C/85%RH試驗(yàn)環(huán)境。具有試驗(yàn)器件短路脫離試驗(yàn)功能,可自動(dòng)將故障器件脫離老化試驗(yàn)回路,不影響其他器件的正常試驗(yàn)。
功能
- nA級(jí)別的漏電流檢測(cè)精度
- dv/dt>30v/ns (Coss<300pF)
- 整機(jī)30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
- 獨(dú)特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進(jìn)程
- 可定制工位老化電壓獨(dú)立控制功能,實(shí)現(xiàn)單工位老化超限剔除
- 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10℃ ~+150℃ |
試驗(yàn)濕度 | 10%RH~98%RH |
試驗(yàn)方法 | VGS, off = VGS, min,VGS, on = VGS, max |
老化試驗(yàn)區(qū) | 14區(qū)(14/16區(qū) 可選) |
單位工位 | 6(典型) |
試驗(yàn)電壓 | 50V ~ 1000V |
電壓檢測(cè)精度 | 檢測(cè)誤差:±(2% ±1V) |
脈沖控制 | 1. 脈沖頻率(方波):10kHz ~ 50kHz,精度:2% ± 2LSB |
VGS電壓測(cè)試范圍 | 被動(dòng)式:-0.7V ~ -20V/0V |
漏電流檢測(cè) | 檢測(cè)范圍:0.1uA ~ 20mA |
整機(jī)供電 | 三相AC380V ±38V |
整機(jī)重量 | 1200Kg(典型) |
整機(jī)尺寸 | 2000mm(W)×1505mm(D)×1950mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q101 AQG324 JESD22-A108 JEDEC JEP183A
適用器件
適用于SiC、GaN、IGBT模塊、MOS管